Istnieje możliwość zdalnego aktywnego uczestnictwa w pomiarach mikroskopowych za pomocą platformy MS Teams lub Youtube.

Bright field (BF) – Główna technika obserwacyjna używana zazwyczaj z aperturą obiektywową wybierającą jedynie elektrony niezdyfraktowane do tworzenia obrazu (kontrast masowo-grubościowy i dyfrakcyjny).

 

Dark field (DF) – Obserwacje próbek za pomocą apertury obiektywowej, pozwalającej jedynie kryształom spełniającym konkretne warunki dyfrakcji na udział w tworzeniu obrazu TEM.

 

Scanning TEM (STEM) – Wiązka elektronów skanuje badaną próbkę. Detektor ADF (Annular Dark Field) zbiera sygnał pochodzący od niekoherentnie rozproszonych elektronów wysokokątowych, dając informacje o grubości i liczbie atomowej próbki (kontrast składowy).

 

High-resolution TEM (HRTEM) – Tryb obrazowania uwzględniający podejście wielowiązkowe (kontrast fazowy) w którym obserwowane są krawędzie sieci krystalicznej (np. płaszczyzn krystalograficznych), lub osiągana jest rozdzielczość atomowa.

 

Selected area electron diffraction (SAED) – Dyfrakcja uzyskiwana jest pod szeroką, równoległą wiązką elektronów przy użyciu apertury służącej do wybrania obszaru próbki z którego ma być rejestrowany obraz dyfrakcyjny.

 

Energy-dispersive X-ray (EDX) spectroscopy – Pomiar widm rentgenowskich umożliwia identyfikację lokalnego składu badanej próbki. W połączeniu z techniką STEM możliwe jest uzyskanie różnego rodzaju przekrojów badanego materiału.

 

Electron energy-loss spectroscopy (EELS) – Utrata energii związana z nieelastycznym rozpraszaniem wiązki elektronów przechodzących przez próbkę TEM jest rejestrowana na widmie strat energii elektronów.

 

Energy-filtered TEM (EFTEM) – Obraz uzyskany z nieelastycznie rozproszonych elektronów w zadanym zakresie energii widma EEL otrzymywany jest z użyciem filtra energii GIF (Gatan Image Filter) umieszczonego za kolumną.